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美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判
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曾陳明汝
美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : 單行本
副題名:
兼與中國商標制度為比較分析與批判
作者:
曾陳明汝,
出版地:
台北市
出版者:
三民書局;
出版年:
1978[民67]
面頁冊數:
206面20公分;
美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判
曾陳, 明汝
美國商標制度之研究
: 兼與中國商標制度為比較分析與批判 / 曾陳明汝著 - 台北市 : 三民書局, 1978[民67]. - 206面 ; 20公分.
附錄:美國商標法案.
美國商標制度之研究 : 兼與中國商標制度為比較分析與批判
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